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电源OTA求助

Test Summary 测试数据

移动电源做OTA测试,EIS测试在1800,1900,WCDMA 2段不合格,差10个DB左右,请高手帮我分析,谢谢!

电源图片 

全部回复(9)
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xwqpower
LV.5
2
2011-07-15 19:55
没人顶,自已顶一下!
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mko145
LV.8
3
2011-07-16 00:43
@xwqpower
没人顶,自已顶一下!
现在不是不用测 OTA了吗? 
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zvszcs
LV.12
4
2011-07-16 10:34
@mko145
现在不是不用测OTA了吗? 
没涉及这块
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xwqpower
LV.5
5
2011-07-19 08:17
@zvszcs
没涉及这块
有没有高手呀?可支付一定费用!
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mko145
LV.8
6
2011-07-20 20:56

请注意以下几点:

    - 整机的结构出现问题:含有金属部分的器件过于靠近iPhone,比如喇叭、铁网,PCB版的位置,散热片的大小等等。如果这些器件对于测试结果影响很大,应当去除或者远离iPhone。

    - PCB的接地的大小:地的大小对于
测试指标的影响是显著的,一般来说,地越大对于TRP/EIS的值影响也就越大。


    - 连接线的长度及摆放位置的影响:iPhone与被测物相连后,很容易把连接线当成一根天线从而导致测试结果变差,所以要求尽量避免连接线的长度处于发射信号的波长段;连接线的摆放位置尽量的远离iPhone,根据我们的测试经验有可能一个小的折痕对于测试结果都将有很大的影响。

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zvszcs
LV.12
7
2011-07-20 21:15
@mko145
请注意以下几点:   - 整机的结构出现问题:含有金属部分的器件过于靠近iPhone,比如喇叭、铁网,PCB版的位置,散热片的大小等等。如果这些器件对于测试结果影响很大,应当去除或者远离iPhone。    - PCB的接地的大小:地的大小对于测试指标的影响是显著的,一般来说,地越大对于TRP/EIS的值影响也就越大。    - 连接线的长度及摆放位置的影响:iPhone与被测物相连后,很容易把连接线当成一根天线从而导致测试结果变差,所以要求尽量避免连接线的长度处于发射信号的波长段;连接线的摆放位置尽量的远离iPhone,根据我们的测试经验有可能一个小的折痕对于测试结果都将有很大的影响。
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xwqpower
LV.5
8
2011-07-21 17:29
@mko145
请注意以下几点:   - 整机的结构出现问题:含有金属部分的器件过于靠近iPhone,比如喇叭、铁网,PCB版的位置,散热片的大小等等。如果这些器件对于测试结果影响很大,应当去除或者远离iPhone。    - PCB的接地的大小:地的大小对于测试指标的影响是显著的,一般来说,地越大对于TRP/EIS的值影响也就越大。    - 连接线的长度及摆放位置的影响:iPhone与被测物相连后,很容易把连接线当成一根天线从而导致测试结果变差,所以要求尽量避免连接线的长度处于发射信号的波长段;连接线的摆放位置尽量的远离iPhone,根据我们的测试经验有可能一个小的折痕对于测试结果都将有很大的影响。
谢谢! 我的电源没办法远离手机,如果我将外壳改为不接地,效果会不会有改善?
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zvszcs
LV.12
9
2011-07-21 20:14
@xwqpower
谢谢!我的电源没办法远离手机,如果我将外壳改为不接地,效果会不会有改善?
厉害,不会带电把
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sky-zhong
LV.4
10
2011-07-22 13:44
@mko145
请注意以下几点:   - 整机的结构出现问题:含有金属部分的器件过于靠近iPhone,比如喇叭、铁网,PCB版的位置,散热片的大小等等。如果这些器件对于测试结果影响很大,应当去除或者远离iPhone。    - PCB的接地的大小:地的大小对于测试指标的影响是显著的,一般来说,地越大对于TRP/EIS的值影响也就越大。    - 连接线的长度及摆放位置的影响:iPhone与被测物相连后,很容易把连接线当成一根天线从而导致测试结果变差,所以要求尽量避免连接线的长度处于发射信号的波长段;连接线的摆放位置尽量的远离iPhone,根据我们的测试经验有可能一个小的折痕对于测试结果都将有很大的影响。
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