IH电饭锅老化试验IGBT击穿和线圈盘有哪些关系？

我们更换线圈盘后做老化试验出现多台IGBT击穿问题，新线圈盘和老线盘电感参数一样，电阻比原盘高6毫欧，Q值低0.5左右，盘间距近2mm左右，我测过原盘的IGBT C极波形有28V台阶，而更换后的波形有32-40V的台阶，请新线盘所用IGBT的C极电压波形台阶高5-10V会是IGBT击穿的关键原因吗？如果是这个原因导致的IGBT击穿，我是否能通过调整锅间距和降低线盘电感来缩小这个波形台阶？感能缩小这个台阶吗？