07.26 无锡丨美国国家仪器NI:没有好测试,再牛的芯片也上不了市!
无锡新吴区菱湖大道200号中国传感网国际创新园F11栋创星咖啡(景贤路)
主办方: 美国国家仪器
引言:
测试是IC设计的重要环节,精确的测试结果,快速的Debug方法,直接决定了芯片Time-To-Market的效率。IC咖啡携手美国国家仪器National Instruments准备了一系列芯片测试的新玩法,带你玩转IC测试。
Digital IC、Analog IC、RF IC, 各位IC designer奋斗在设计一线,不断的设计出速度更快、功耗更低、面积更小的芯片。 每一次流片回来,高强度的测试任务,对于测试工程师及IC设计师来讲,都是最为心情跌宕起伏的时刻:仿真很“丰满”,测试很“骨感”。
1.平台化方法降低IC测试成本及上市时间:
随着IC集成度日益提高,行业整合和全球竞争的加剧,IC工程师面临着巨大的开发成本和上市时间的压力。 不幸的是,实验室和量产测试中的ATE系统使用传统仪器的方法不能进行扩展满足到当今IC产业不断变化的需求,在成本和上市时间上带来商业风险。 在本演讲中,我们将介绍基于平台的方法是如何提升IC验证分析速度和测试设备性能,满足制造成本和可靠性的需求。
2.从实验室到量产——NI RFIC测试方案:
在此演讲中,将探讨基于PXI平台和矢量信号收发仪VST,您可以轻松应对当前复杂且技术更新很快的RFIC测试,以及NI平台如何打通从实验室到量产测试的RFIC测试方案。
3.解读构建SLT(System Level Test)的新软件架构:
随着IC集成度的巨大提升,SiP等的封装形式的出现也让测试变得越来越困难。在本演讲中,我们讲讨论SLT测试的趋势和方法,并且如何用平台化方法构建SLT测试系统。
4.降低测试成本新方法——物联网蓝牙芯片产测解决之道:
在物联网时代,无线网络的要求不断推进无线标准的发展。事实上,低延迟、低功耗、高可靠性的技术要求最终推动了未来无线技术的发展方向。在本演讲中,我们将探讨最新兴的无线技术对IoT,移动和基础设施的设计和测试的影响,并且以低功耗蓝牙芯片量产测试为例,讨论针对应用于物联网芯片如何在量产测试中降低测试成本。
*议题根据地区调整
内容资源:
NI的平台化方法下,最大化利用统一的平台提升实验室和量产测试的数据关联,打通从实验室到量产测试的鸿沟!降低测试成本,加快上市时间,将不再是难题!
在统一的平台下,NI模块化的仪器和开放灵活的软件是一切的基石,极广的信号覆盖(从DC到毫米波),顶级的射频及混合信号仪器,天然的并行测试特性,这样的高性能平台已经为全球范围内多家客户带来了福祉。
而NI为量产测试而打造的STS(半导体测试系统),对接行业标准,为量产测试添砖加瓦提升测试速度!
-芯片设计工程师及部门主管
-芯片测试工程师及部门主管
-Verification 及 Qualification 部门工程师
-其他IC业内人士
欢迎您的到来!
活动主办方:美国国家仪器
美国国家仪器,世界上最大领先的硬件电子测试测量仪器公司。提供丰富的工具软件,如LabVIEW,AWR,以及高性价比的模块化硬件,覆盖IC从研发到量产的全产业链测试与仿真需求。40多年来,美国国家仪器公司(NI)帮助测试、控制、设计领域的工程师与科学家解决了从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战,提供大量的软件,硬件,覆盖IC全产业链测试与仿真需求。在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。如今,NI为遍布全球各地的35,000家不同的客户提供多种应用选择,在RF芯片设计和测试方面具有丰富的经验和专业知识。