导读：

随着移动终端出货量的快速扩张，其中的射频功率器件市场不断更新布局，提高PA效率和线性度的需求推动了新测量技术的出现，也使得PA特征化的复杂度日益提高。

在这个研讨会中，我们将介绍现代蜂窝手机功率放大器的三个重要测试需求和挑战，包括：数字预算失真(DPD)、包络跟踪特性化(ET)和负载牵引(Load pull)。DPD可在输出功率较高时有效线性化功率放大器(PA)，并增大PA满足特定标准传输需求的可能性，以提高调制质量和频谱纯度。包络跟踪的目的是通过动态改变功放的效率曲线来提高高PAPR波形的效率。最后，负载牵引可帮助工程师通过找到功率晶体管的最优输入和输出阻抗来提高功放的整体效率。

Topics:

NI射频集成电路测试技术及应用概览

PA工程师必须了解的三种技术—数字预失真，包络跟踪以及负载牵引

NI全新矢量信号收发仪(VST 2.0)技术及应用揭秘

客户案例分析

应用演示：

DPD on 802.11ac

802.11ax Loopback

LTE WLAN Co-existence?

FPGA Mod/Demod Example

Real-time spectrum monitoring

★  演讲嘉宾：

Brian Glass, Senior Product Marketing Manager for RFIC

Yi Han, DSM

Fangze Tu, Senior Application Engineer

★  活动主办方：美国国家仪器

美国国家仪器，世界上最大领先的硬件电子测试测量仪器公司。提供丰富的工具软件，如LabVIEW，AWR，以及高性价比的模块化硬件，覆盖IC从研发到量产的全产业链测试与仿真需求。40多年来，美国国家仪器公司(NI)帮助测试、控制、设计领域的工程师与科学家解决了从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战，提供大量的软件，硬件，覆盖IC全产业链测试与仿真需求。在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。如今，NI为遍布全球各地的35,000家不同的客户提供多种应用选择，在RF芯片设计和测试方面具有丰富的经验和专业知识。

时间地点

【时间】：2016年8月29日，13:30--17:00

【地点】：上海浦东新区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡，近地铁2号线张江高科站5号口（祖冲之路松涛路）

【路线】：地铁2号线5号口出，穿过“黑暗料理小吃”，传奇广场坐电梯到3楼即达（交通银行和中国银行之间）；自驾，松涛路路口进，1楼三和面馆旁电梯上

【费用】：免费

【报名】：点击下方"阅读原文"即可参与报名。

活动主办：

联合主办：

活动支持：