一个重要的测试试验是确定外部的射频场是否会对产品产生影响是辐射抗扰度测试。对于商用产品测试标准为IEC 61000-4-3。试验的频率范围通常为80～1000MHz。具体数值取决于产品所处的环境或其实

我们在进行辐射发射测试时，通常容易超标的几个部分在30MHz～50MHz频段；60MHz左右频段；80MHz～100MHz频段；100MHz～300MHz频段；而通常超过100MHz的情况主要集中在晶

在大多数情况下，与辐射发射相比，传导发射的故障诊断和整改更为容易。与高频相比，频率较低时受到寄生效应的影响较小。因此，与辐射发射产生的原因和解决方法相比，传导发射产生的原因和解决方法通常更容易理解。大

辐射发射源的的分析和判别在产品中通常连接线电缆和结构是产品辐射发射中最主要的问题点。一旦发现产品的布线及结构；比如连接线电缆、缝隙或其他孔缝已成为辐射天线，那么就需要打开产品，尽力确定驱动外部电缆或缝

产生窄带谐波的源有晶振或时钟振荡器、内部的锁相环（PLL）时钟上的变频器、快速的时钟信号或其他产生快速上升时间的数字电路。对于理想方波的晶振或时钟，其占空比为准确的50%且没有过冲或失真时将只有奇次谐

如图所示，这样的电路板在信息类产品中还经常碰到，在这里我将这种通常的电路板PCB进行保护铜边带及保护线的设计分享给大家。注意：PCB铜保护边带和保护线条有所不同。保护边带用在边沿或者是用在塑料包装里面

接下来，我们进行辐射发射的故障整改分享。通常在测试试验的现场进行EMI故障整改，有一些事情必须有意识地去做。（1）首先应确保观察到的发射不是来自FM广播、蜂窝电话或数字电视产生的环境信号。这时可能需要

PCB的设计在产品可靠性设计方面是非常重要的。对于PCB设计在EMI方面的问题考虑：设计工程师通常都非常注意PCB上信号走线的布线，但经常却没有考虑他们的返回路径。理解和解决EMI问题的关键是理解电流

今天将就大家比较容易遗忘的EMI问题进行分享。一．接地和搭接在EMI的故障整改领域中，接地实际上是指产品内电路或组件的返回路径的分析与设计。在实际工作中，接地经常指的是信号或电源的返回路径，而不是地或

当在测试中进行试验时，最大的风险极可能是辐射发射。目前的电子产品中都普遍使用了高速数字电路和开关电源电路，所以对于时钟频率的谐波及开关电源与其他具有快速上升沿的器件，都很容易辐射电磁场。通常的情况下，