LED背光驱动产品Surge测试-Pass 理论分析

  1.   LLC直推产品进行L,N ; L,G;  N,G; 进行6KV 浪涌测试;通过浪涌测试的理论设计原理方案如下:

2  .LLC驱动控制IC电路板进行L,G ; N,G 出现V904(2907) 损坏;进行故障测试-6KV 测试时的捕捉到故障波形如下:

CH2:LLC(IC)-3Pin  VCC-I(工作电流)CH4VCC(工作电压

6KV 浪涌异常状态;

Surge时-IC故障:VCC电流增大;导致前级控制三极管-V904(2907) 损坏;

3.  进行 故障模拟测试;Surges时IC 重启;IC重启时无器件损坏,测试到的故障波形如下:

CH2:LLC/IC-3Pin  VCC-I(工作电流)CH4:LLC/IC-DRV  

Surge  L-G/N-G  6KV 浪涌异常复位重启!

4.  对线路板的PCB-Laylout 按1.的回路分析法;

   Surge正,负累积的效应导致IC内部电路受到干扰动作!

6KV-Surge / L-G;  N-G图示部分存在地回路;功率地和信号地的影响;

Mechanisman  alysis

Surge test /  V904出现故障;IC-VCC电流由于内部Transistor工作异常;受到干扰出现误触发状态;LLC-IC/VCC内部Transisto(保护晶体管)误动作,导致VCC工作出现测试拉电流;

Soultion:

解决地回路的通畅同时通过图示原理进行功率地IC地的分离走线;

防止Surge干扰信号(正负脉冲)通过IC-GND引入噪声电压,导致IC-VCC内部 Transisto(保护晶体管)误动作,出现异常拉电流!

Optimized PCB Design:

解决产品可靠性设计;降低产品故障率。

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