合理利用EMC实验的测试标准Pass实验

对于绝大多数人而言,出现EMC问题时,第一时间想到的是如何改善自身产品,而往往会忽略Setup是否合适,本文就几个案例分享因为setup不恰当引起的实验fail。

实验案例1:BCI实验

实验产品:汽车电子产品,测试接口是CAN FD通信

实验布置图:

由于测试人员需要随时监测电脑画面是否异常,所以测试电脑放置在实验室外,考虑信号传输会受到干扰,采用了光耦。光耦的主要作用包括以下几个方面:

1.长距离传输时,提升信号传输的抗干扰能力;

2.在电子产品设计中,为了截断产品内部电路与外界的干扰传输通道,或出于安全隔离的考虑,通常会在I/O端口或内部电路信号传输过程中采用隔离的方式,这种隔离技术是EMC 中的重要技术之一,其主要目的是试图通过隔离元件把噪声干扰的路径切断,从而达到抑制噪声干扰的效果。在低频情况下,采用了隔离的措施以后,绝大多数电路都能够取得良好的抑制噪声的效果,使设备符合低频EMC的要求。

实验现象:实验中发现,BCI的某些频段无论怎么整改还是无法通过,后来将笔记本直接拿到室内,重新复测BCI失效的频段,实验通过。本次失效的原因在于一般的光耦多应用于低频情况下,对于高频的信号传输,反而可能会引入别的EMC问题,所以在抗干扰性实验时,需要恰当的使用光耦技术来帮忙我们通过实验。

实验案例2:CCE实验

实验产品:汽车电子产品。

实验现象:CCE实验时某些频段,有时候测试会超标,有时候又不超标。

在CCE实验中,良好的setup是非常重要的,对于一些弯折的布线,我们需要避免出现锐角,对于测试线束,我们可以在标准范围以内,将每根线束的距离拉开(需要跟第三方实验室人员达成一致),CCE的布线,个人觉得就好比我们正常Layout的布线一样,尽量走钝角,避免走锐角/直角(出现阻抗失配),线距拉开,避免线束之间的干扰等等。对于上述问题,我们将线束的间距拉开后,未再出现之前的问题。

实验案例3:RE实验

实验布置图:对于1GHz以下的频段,是对线束进行测试。

实验现象:线束1.7MHZ以下出现窄带超标,而且频点是产品的时钟频率,我们可以考虑优化对应的时钟电路,也可以观察是否可以优化线束的setup,观察发现,从产品板的connector处的测试线束非常的靠近电路板的时钟信号,我们尝试将线束从另一个方向绕出,重新测试该频段,发现超标的幅值大幅度下降。

以上三个实验案例仅仅是对EMC实验setup优化的一部分,通过这几个案例想告诉大家的是解决EMC问题,不能一遇到问题,就直接奔向产品本身,也可以换个角度来看待问题,或许就能够柳暗花明,事半功倍。总之,合理的利用实验规则,往往能够取得意想不到的效果。

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  • dy-qgCJ64JF 02-20 17:41
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  • dy-SvuWAgzA 2022-02-05 14:29
    不错😄
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  • dy-y12DGQvW 2021-12-28 12:22
    写的不错
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  • dy-PZCvUC1L 2021-05-03 17:39
    有道理
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  • dy-lyd1vZ59 2021-05-03 17:05
    挺好的
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  • 明心静远 2021-04-24 06:57
    每根线束的拉开,或者是可以减少部分串扰,但是许多车载系统的线束都是一捆一捆扎起来的(实际装配也是如此,不可能把每一个根线束都分开)。那么还是治标不治本的。除非只是为了通过而通过。(个人观点,冒昧向大神请教一下。)
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  • 明心静远 2021-04-24 06:47
    如果按照你的说法,高频使用光耦会增加新的EMC干扰,那么在测辐射干扰这类,是不是同样也会增加EMC干扰,影响实测数据。
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