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失效分析常用仪器

探针台主要用途 通过微探针连接到芯片并引出所需信号,用于电学特性测试 性能参数 放大倍数50X,100X,200X,500X 8个探针座 带屏蔽箱 应用范围 微小连接点信号引出,用于失效分析失效确认,FIB电路修改后电学特性确认等。

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