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求问逆变后级中共地问题

变压器副边有2个绕组,上面那个20V打算降压用来给后级逆变的MCU进行供电,同时也给输出回路的电压电流采样电路进行供电,然后下面那个400V是给后面全桥逆变进行供电的,然后有我的问题就是

1)我上面给芯片供电的地要不要和下面的400V绕组的地进行共地,我看其他一些人的图上面虽然不是同一个共地的,但实际PCB上使用电阻或者连锡吧他们连在一起了。

2)共地的话下面功率侧会不会对我那个采样信号有很大干扰?

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dyzero
LV.3
2
02-09 09:46

不清楚这个行业常规是怎么做的,不过MCU作为大脑,它的供电是不是应该做一些保护和防护设计,这样确保逆变的安全。

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02-09 11:10

1、共地问题:必须共地,不然MCU和采样的地基准会飘,数据全乱。但400V功率侧和20V控制侧直接连,开关噪声会顺着地平面串进采样回路,直接没法用。那些用电阻 / 连锡的,其实是单点汇接,在电源入口处,用磁珠+电容或0Ω 电阻把功率地和信号地单点接在一起,形成唯一回流点,避免地环路。2、干扰问题:做好单点共地+布局隔离,干扰能压到可接受范围。关键是采样回路用差分走线+屏蔽,PCB上功率地和信号地分开铺铜,只在单点汇接;采样芯片尽量靠近信号源,远离功率器件和变压器。硬连才是干扰的根源,不是共地本身。

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Venuslfh
LV.1
4
02-09 12:28
@锂电连接专家-Yassin
1、共地问题:必须共地,不然MCU和采样的地基准会飘,数据全乱。但400V功率侧和20V控制侧直接连,开关噪声会顺着地平面串进采样回路,直接没法用。那些用电阻/连锡的,其实是单点汇接,在电源入口处,用磁珠+电容或0Ω电阻把功率地和信号地单点接在一起,形成唯一回流点,避免地环路。2、干扰问题:做好单点共地+布局隔离,干扰能压到可接受范围。关键是采样回路用差分走线+屏蔽,PCB上功率地和信号地分开铺铜,只在单点汇接;采样芯片尽量靠近信号源,远离功率器件和变压器。硬连才是干扰的根源,不是共地本身。

嗷嗷,意思就是说,上面MCU和下面功率的地铺铜是2个独立铜皮,然后中间就用一个点连接,然后就形成了单点回路这种,而不是那种全铺铜。

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