数字隔离器PWM延时测试

数字隔离器件相信各位工程师朋友经常用到，关于器件的概述这里不再介绍，有兴趣的朋友可以参考实用技术1“数字隔离器”。这里主要测试最近所用到的不同数字隔离器的PWM信号延迟时间。

这两款器件均是国产器件，型号分别为CA-IS3720H、CBMuD1200H。首先我们通过查阅数据手册对比一下延迟时间。

CA-IS3720H手册

CBMuD1200H手册

通过datasheet发现，两款数字隔离器延迟实际典型值基本一致，那下面不妨实际测量一下。

控制器产生的500kHz脉冲信号

下降沿时间为28ns

上升沿时间为28ns

下面测试CA-IS3720H的上升沿和下降沿

下面测试CBMuD1200H的上升沿和下降沿

通过波形对比，两者下降沿延时基本相同，约为21ns，上升沿前者慢与后者，两者相差8ns。

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鲁珀特

LV.4

2021-08-15 17:23

但在实际应用中 PWM的上升沿和下降沿也有一定的延时，如果单纯看隔离器的话，是否要减去PWM本身的延时？

飞翔2004

LV.10

2021-08-18 15:30

@鲁珀特

但在实际应用中 PWM的上升沿和下降沿也有一定的延时，如果单纯看隔离器的话，是否要减去PWM本身的延时？

就是因为这个开关延时，所以MOS管的结电容参数等不一样，所以每个型号的MOS管允许通过的频率不一样。。

iszjt

LV.5

2021-08-19 08:22

感谢楼主分享！！！

虽然隔离是很重要的系统考虑，但也存在缺点：会提高功耗，跨过隔离栅传输数据会产生延迟，而且会增加系统成本。

ehi763

LV.6

2021-08-20 18:13

还有Tr,Tf这两个参数也很关键，CA-IS3720H是2通道数字隔离器，损耗也比较低。

suh520

LV.4

2021-08-21 10:25

光耦延时更离谱

suh520

LV.4

2021-08-21 10:25

光耦延时更离谱

airwill

LV.2

2021-08-21 12:00

边沿时间, 通常定义的是 10%~90%范围的时间

电源技能成长记

LV.4

2021-08-21 14:18

@airwill

边沿时间,通常定义的是 10%~90%范围的时间

是的

电源技能成长记

LV.4

2021-08-21 14:19

@suh520

光耦延时更离谱

不太明白

ae10257

LV.5

2021-08-24 10:55

综合来看，在实际应用中，比较看重的还是上升沿的时间。

BEYOND1993

LV.2

2021-08-26 09:31

高速光耦，版主有用过吗？可以测试一下。

电源技能成长记

LV.4

2021-08-30 18:14

@ae10257

综合来看，在实际应用中，比较看重的还是上升沿的时间。

开通速度要尽量快对吗？

电源技能成长记

LV.4

2021-08-30 18:15

@BEYOND1993

高速光耦，版主有用过吗？可以测试一下。

实践有限，目前还没用过高速光耦，隔离光耦用的十分多吧？这个没有具体了解过

电源技能成长记

LV.4

2021-08-30 18:24

上次测试的数字隔离波形主要用于分立器件搭建的驱动电路，下面展示一下，近期测试的驱动波形。

驱动波形是带负压驱动，主要目的是增强抗干扰能力，上图是500kHz测试MOS管的驱动和漏源电压波形。

下面看一下上升沿和下降沿。

上升沿开始振荡的位置开始进入密勒效应，由于分立器件可以看到上升沿的过程中有振荡，测试了软开关同样的驱动电路就没有振荡和密勒效应。关断下降沿的密勒效应十分明显。为什么关断时没有振荡呢？

星球居民-buuWGjmg

LV.1

2021-08-30 20:18

@电源技能成长记

上次测试的数字隔离波形主要用于分立器件搭建的驱动电路，下面展示一下，近期测试的驱动波形。[图片]驱动波形是带负压驱动，主要目的是增强抗干扰能力，上图是500kHz测试MOS管的驱动和漏源电压波形。下面看一下上升沿和下降沿。[图片][图片]上升沿开始振荡的位置开始进入密勒效应，由于分立器件可以看到上升沿的过程中有振荡，测试了软开关同样的驱动电路就没有振荡和密勒效应。关断下降沿的密勒效应十分明显。为什么关断时没有振荡呢？

上升沿产生振荡主要是门极寄生电感造成的，PCB布局时应尽量减小驱动回路。