晶圆芯片L-IV测试S型数字源表认准普赛斯仪表,国产自主研发,相比2400,B2901进口源表,测量范围更广,电压高300V,电流低至100pA;可进行自我限制,避免因过充而造成的对测试器件的损害

一、源表定义

“源表”又称“数字源表”、“源测量单元”,是一种可编程控制,作电压源或电流源提供精确的电压或电流,并同步测量和IV扫描的通用仪表。

 

二、源表特点:

多功能:可作源和负载,又能测;

高效率:满足多种测试需求;

可编程控制:高精度可调,灵活控制;

IV扫描:快速、直观显示,一步操作。

 

三、应用领域:

分立半导体器件特性测试,电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件;

能量与效率特性测试,LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等

传感器特性测试,电阻率、霍尔效应等

有机材料特性测试,电子墨水、印刷电子技术等

纳米材料特性测试,石墨烯、纳米线等

 

四、测试功能:

五、S系列介绍特点:

1、5寸800*480触摸显示屏,全图形化操作

2、内置强大的功能软件,加速用户完成测试,如LIV、PIV

3、源及测量的准确度为0.1%,分辨率5数位

4、四象限工作(源和肼),源及测量范围:电流100pA~1A,电压0.3mV~300V

5、丰富的扫描模式,支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

6、支持USB存储,一键导出测试报告

7、支持多种通讯方式,RS-232、GPIB及以太网

参数:

最大输出功率:30W,4象限源或肼模式;

源限度:电压源:±30V(≤1A量程),±300V(≤100mA量程);

电流源:±1.05A(≤30V量程),±105mA(≤300V量程);

过量程:105%量程,源和测量;

稳定负载电容:<22nF;

宽带噪声(20MHz):2mV RMS(典型值),<20mV Vp-p(典型值);

线缆保护电压:输出阻抗1KΩ,输出电压偏移<80uV;

最大采样速率:1000 S/s;

触发:支持IO触发输入及输出,触发极性可配置;

输出接口:前后面板香蕉头插座输出,同一时刻只能用前或者后面板接口;

通信口:RS-232、GPIB、以太网;

电源:AC 100~240V 50/60Hz;

工作环境:25±10℃;

尺寸:106mm高 × 255mm宽 × 425mm长;

六、国产优势

1、自主研发,符合大环境下国内技术自给的需求;

2、性价比高;

3、可及时与客户沟通,为客户提供高性价比系统解决方案。及时指导客户编程,加速测试系统开发。

七、常见答疑:

1、 为什么你们的测量精度比不上进口产品?

0.1%精度已能满足绝大部分行业应用,具有更高的性价比。普赛斯仪表也在研发更高精度的源表,不过价格会稍高。

2、 通道数量所体现的具体产品差异是什么?

对于很多芯片而言,往往需要多个通道的源表进行测试。集成多个通道有利于减少系统体积、减少开发难度。目前普赛斯仪表台式源表仅提供单通道。但插卡式源表可实现多通道。

3、 普通源表与插卡式源表的具体异同?

插卡式源表是一种无触屏显示的、由多种源表子卡组成的组合式仪表。子卡功能与台式源表功能基本一致,子卡必须在特定的主机内才能工作。插卡式源表由上位机控制,具有单位体积内通道密度更高、可根据实际情况自由组合源表子卡等特点,最高可支持达40通道。目前已规划单卡单通道和单卡4通道源表子卡。

4、关于软件

S系列软件,兼容2400和2450,对使用2400和2450搭建的已有测试系统,可以实现替换,而无需修改测试系统软件。

5、关于测试搭建

简易测试连接电极直接测试,其它要求可采取与探针台,测试机配套使用。