量测仪器大厂Chroma将推出全新研发的次奈米三维光学轮廓仪(Chroma 75xx系列产品),此一系列产品系采用白光干涉扫瞄原理(SWLI),透过显微干涉仪、精密扫描系统和创新的算法,量测及分析各类产品表面的立体细微构造,最适合微米至奈米尺寸范围之半导体、电子封装、平面显示器、微机电…等产业之表面三维形貌检测应用,为微小制程与研发之必备工具.
Chroma 75xx系列产品乃采用影像式整面检测,速度快且可靠,具有次奈米垂直解析能力与宽广扫描范围,可对大面积的产品作细微检测,同时具备暗点及绕射影响修正的功能,很适合应用在反射率差异大之产品,并拥有图标控制系统、三维轮廓显示及强大的轮廓分析软件;可轻易上手的操作界面让使用者能快速地完成检测作业.此系列产品在检测速度与算法上已领先业界,在广泛的应用领域可解决业界的检测问题,并且已取得多项的国内外专利认证,目前该产品已获国内中原大学采用,及其它大学院校的实验室相继测试,其精准度与稳定度均获得相当高的肯定与评价,亦有多家企业包括电子与平面显示器业界,将于近期应用在其产品的检测.中茂电子表示,Chroma每年投入相当多的研发资金与人力,不断地研发创新技术,以提高公司的核心竞争力;推陈出新的产品开发策略深受客户的喜爱与信赖,预估全新的Chroma 75xx系列次奈米三维光学轮廓仪的推出,将有效的降低客户的制造成本及提升产品良率,是引领业界创新的全方位量测解决方案.
500) {this.resized=true; this.width=500; this.alt='这是一张缩略图，点击可放大。\n按住CTRL，滚动鼠标滚轮可自由缩放';this.style.cursor='hand'}" onclick="if(!this.resized) {return true;} else {window.open('http://u.dianyuan.com/bbs/u/51/1175166258.jpg?x-oss-process=image/watermark,g_center,image_YXJ0aWNsZS9wdWJsaWMvd2F0ZXJtYXJrLnBuZz94LW9zcy1wcm9jZXNzPWltYWdlL3Jlc2l6ZSxQXzQwCg,t_20');}" onmousewheel="return imgzoom(this);">