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反激初级线圈匝数是否越少越好?

输入电压范围170V~250VDC计算出来的初级匝数是100圈,

如果输入电压范围变宽,即最小输入电压变低,比如50V,计算出的初级匝数50圈,

这样我设计的电源不但输入电压范围变宽,而且初级匝数变少。

一定有弊端吧?想不出,请教大家。

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2013-05-03 10:04

Bm=(L*Ip)/(N0*Ae)

初级线圈匝数N0越小,最大磁感应强度Bm越大,磁芯越容易饱和。

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2013-05-03 17:42
@新月GG
Bm=(L*Ip)/(N0*Ae)初级线圈匝数N0越小,最大磁感应强度Bm越大,磁芯越容易饱和。

初级匝数越少,初级电流越大,容易饱和,但是我降低占空比啊

我是根据输入电压和磁芯饱和磁通计算出初级匝数

降低输入电压,就会减少初级匝数,饱和磁通不变。

所以我不觉得磁芯容易饱和。

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2013-05-03 20:04
@jiangping2007
初级匝数越少,初级电流越大,容易饱和,但是我降低占空比啊我是根据输入电压和磁芯饱和磁通计算出初级匝数降低输入电压,就会减少初级匝数,饱和磁通不变。所以我不觉得磁芯容易饱和。

IP会增大。。。线径要变粗。。。

温度也会上去。。。而且气隙变小,因为(你的匝数少,那么要保持L不变)。。。

也会导致你的变压器容易饱和。。

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2013-05-04 08:43
@jiangping2007
初级匝数越少,初级电流越大,容易饱和,但是我降低占空比啊我是根据输入电压和磁芯饱和磁通计算出初级匝数降低输入电压,就会减少初级匝数,饱和磁通不变。所以我不觉得磁芯容易饱和。

2贴的公式,哪个参数和占空比有关?

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rockyy
LV.6
6
2013-05-04 08:58
@dxsmail
IP会增大。。。线径要变粗。。。温度也会上去。。。而且气隙变小,因为(你的匝数少,那么要保持L不变)。。。也会导致你的变压器容易饱和。。

师长好,其实我也一直搞不懂,按照你所说的线径变粗,导线横截面就变粗,圈数又变少,应该是损耗变小,温升应该会更好的吧,另外你所说的饱和问题,可以降低变压器的感量解决,个人觉得还是应该减少初级线圈,不知道这样分析有没有问题,请指教,谢谢!

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2013-05-04 09:52
@rockyy
师长好,其实我也一直搞不懂,按照你所说的线径变粗,导线横截面就变粗,圈数又变少,应该是损耗变小,温升应该会更好的吧,另外你所说的饱和问题,可以降低变压器的感量解决,个人觉得还是应该减少初级线圈,不知道这样分析有没有问题,请指教,谢谢!

铜损会变小,由于Bm变大了,所以铁损会变大。4贴可能是按经验得出的总损耗变大,温度上升。

如果保持电感量不变,自然气隙变小;气隙变小,自然容易饱和。

如果保持气隙不变,则电感量减少,这样的话,峰值电流Ip会上升,自然容易饱和。所以一般设计变压器,都会根据最大磁感应强度Bm,有个最小原边绕组N0的计算公式。

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rockyy
LV.6
8
2013-05-04 10:11
@新月GG
2贴的公式,哪个参数和占空比有关?

他的意思是由IPK=2*PIN/(D*VIN)说的吧,想保证初级pk电流不变,输入电压降低,从而增加它的占空比吧

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rockyy
LV.6
9
2013-05-04 10:14
@新月GG
铜损会变小,由于Bm变大了,所以铁损会变大。4贴可能是按经验得出的总损耗变大,温度上升。如果保持电感量不变,自然气隙变小;气隙变小,自然容易饱和。如果保持气隙不变,则电感量减少,这样的话,峰值电流Ip会上升,自然容易饱和。所以一般设计变压器,都会根据最大磁感应强度Bm,有个最小原边绕组N0的计算公式。

高手,在铜损和铁损方面如何来均衡,比如如果变压器温升高了,怎么判断是铜损引起还是铁损引起的,谢谢!

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2013-05-04 10:47
@rockyy
他的意思是由IPK=2*PIN/(D*VIN)说的吧,想保证初级pk电流不变,输入电压降低,从而增加它的占空比吧

3贴说的是减小占空比。

而且没列出公式,让偶们费神去猜他的公式。

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2013-05-04 10:53
@rockyy
高手,在铜损和铁损方面如何来均衡,比如如果变压器温升高了,怎么判断是铜损引起还是铁损引起的,谢谢!

用两组温度测试。。。一组测磁芯温度,一组测线包温度。。。。

但正常的设计,就只测磁芯。。。

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2013-05-04 11:04
@dxsmail
IP会增大。。。线径要变粗。。。温度也会上去。。。而且气隙变小,因为(你的匝数少,那么要保持L不变)。。。也会导致你的变压器容易饱和。。

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btclass
LV.7
13
2013-05-04 11:20

呵呵,我来告诉你真相。如果你100T都没饱和,那么50T是绝不会饱和的。

受影响的是次级二极管的反压会更高,给二极管留30%余量就好。

匝比越小,需要占空比就越小,越容易靠近DCM模式,需要考虑的是环路的设计。

峰值电流上去了,但是电感量下降了,所以根本不会饱和,从一定意义上讲会更加安全。


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2013-05-04 20:29
@btclass
呵呵,我来告诉你真相。如果你100T都没饱和,那么50T是绝不会饱和的。受影响的是次级二极管的反压会更高,给二极管留30%余量就好。匝比越小,需要占空比就越小,越容易靠近DCM模式,需要考虑的是环路的设计。峰值电流上去了,但是电感量下降了,所以根本不会饱和,从一定意义上讲会更加安全。

谢谢回复,

我觉得您的回复靠谱。

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wwsshh_88
LV.1
15
2013-05-05 13:51
@jiangping2007
谢谢回复,我觉得您的回复靠谱。

谁用过SX60-D12S5武汉盛翔的高温电源,支一声。看看效果如何,我们也准备用了。

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2013-05-05 16:18
@新月GG
Bm=(L*Ip)/(N0*Ae)初级线圈匝数N0越小,最大磁感应强度Bm越大,磁芯越容易饱和。

初级线圈匝数越小、峰值磁通密度越大、而磁芯就越容易饱和、磁损也增加,但也不是说匝数越多就越好、铜损也会增加的嘛,还是要取折、大概计算出后根据骨架尺寸选择铜线线径

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2013-05-06 08:59
@btclass
呵呵,我来告诉你真相。如果你100T都没饱和,那么50T是绝不会饱和的。受影响的是次级二极管的反压会更高,给二极管留30%余量就好。匝比越小,需要占空比就越小,越容易靠近DCM模式,需要考虑的是环路的设计。峰值电流上去了,但是电感量下降了,所以根本不会饱和,从一定意义上讲会更加安全。
无语。。。
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2013-05-06 09:37
@jiangping2007
谢谢回复,我觉得您的回复靠谱。
试试才知道哪种方法靠谱。。。。。。。
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rockyy
LV.6
19
2013-05-06 21:25
@dxsmail
用两组温度测试。。。一组测磁芯温度,一组测线包温度。。。。但正常的设计,就只测磁芯。。。
恍然大悟,我有见过我们这里工程师这样测试过,当时觉得应该温度差不多,毕竟磁芯跟线包是在一起的,现在才明白是测试铜损和磁损
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2013-05-07 08:07
@btclass
呵呵,我来告诉你真相。如果你100T都没饱和,那么50T是绝不会饱和的。受影响的是次级二极管的反压会更高,给二极管留30%余量就好。匝比越小,需要占空比就越小,越容易靠近DCM模式,需要考虑的是环路的设计。峰值电流上去了,但是电感量下降了,所以根本不会饱和,从一定意义上讲会更加安全。
低于芯片要求的最少匝数。连启动都启动不了。。。。
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2013-05-07 09:31
@btclass
呵呵,我来告诉你真相。如果你100T都没饱和,那么50T是绝不会饱和的。受影响的是次级二极管的反压会更高,给二极管留30%余量就好。匝比越小,需要占空比就越小,越容易靠近DCM模式,需要考虑的是环路的设计。峰值电流上去了,但是电感量下降了,所以根本不会饱和,从一定意义上讲会更加安全。

“如果你100T都没饱和,那么50T是绝不会饱和的”,那照这样说我10T都没饱和、那么5T也是绝对不会饱和吗? 理论大家都 有所了解的  有时还是要经过实践的

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fastion
LV.1
22
2020-01-09 17:12
@rockyy
师长好,其实我也一直搞不懂,按照你所说的线径变粗,导线横截面就变粗,圈数又变少,应该是损耗变小,温升应该会更好的吧,另外你所说的饱和问题,可以降低变压器的感量解决,个人觉得还是应该减少初级线圈,不知道这样分析有没有问题,请指教,谢谢!

反激式开关电源是利用电感储能,而非纯工频变压器主要靠匝数线降升压,同一磁芯下,线圈匝数少了,电感量会变少,要储相应功率的电量,电流就是变大了。电流变大,会带来更多的线损与开关管损耗。

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