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罗德与施瓦茨增强汽车雷达罩测试仪功能,为材料反射测量带来了新的精度水平

2021-03-03 13:30 来源:罗德与施瓦茨 编辑:电源网

罗德与施瓦茨增强了其优质汽车雷达罩测试仪R&S QAR,这是一种用于雷达集成测试的定制解决方案,可以分析和评估雷达罩(车标)和保险杠相对于雷达的兼容性。OEM整车厂和一级供应商通过新的 R&S QAR-K50 单一天线集群测量软件,以非破坏性的、二维的方式进行测量,并能得到非常接近于以矢量网络分析仪 (VNA) 和准光学 (QO) 装置所获得的测量结果。此外,用户还将从 R&S QAR的直观操作理念中获益。

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R&S QAR 是一套适用于雷达罩和保险杠的测试与验证的毫米波成像系统。得益于其出众的性能、速度、质量以及直观的操作,该系统成为一套完美的工具,应用范围覆盖从76 GHz到81 GHz的雷达罩材料和集成测试,包括从研发、生产到验证的各个环节。

高空间分辨率是以在入射角方面具有更大的扩展为代价的。典型的雷达传感器具有一定的视场(FOV),例如全范围雷达(FRR)是±10度,而短距离雷达(SRR)是±60度。根据材料表征技术,雷达罩的反射参数主要以垂直入射角来定义,因为这些参数可以使用矢量网络分析仪(VNA)进行测量。R&S QAR-K50软件选件即基于这个主题。

将R&S QAR提供的结果与使用标准矢量网络分析仪 (VNA) 和准光学 (QO) 装置测量的结果进行比较,利用R&S QAR所用的较大孔径,能够观察到并解释测试对象的某些误差。

这就是R&S QAR-K50软件选件发挥效力之处。它会自动检测材料样本中的最高反射和测试区域的平均值。反射区域的平均值在 7 秒内即可确定并将测量结果显示给用户。此数值与 VNA 的 S11 和 S22 反射测量结果非常匹配。

研发过程中用 VNA 和 QO 装置进行的测量结果,现在可以直接与R&S QAR的测量结果进行比对。本系统仍然利用微波成像技术,但天线孔径更小,因此对定位误差的敏感度较低,比VNA装置更加适合于生产环境。即使样品定位稍有公差,R&S QAR-K50软件也能够自行检测正确的测量区域,并为操作员提供光学反馈。现在,R&S QAR将适用于均一性分析的高分辨率图像(R&S QAR-K10软件) 与稳健易用的反射测量相结合。以R&S QAR-K50软件选件所得的测量值,可直接相当于 VNA 在 QO 设置中提供的结果。

R&S QAR-K50是用于单个天线集群测量的软件选件,可安装在所有 Windows 10 版本且带有最新版固件的R&S QAR上,输入键码即可激活。该选件现在已经可以从罗德和施瓦茨订购。

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