微软公司宣布不再支持你正在使用的 IE浏览器,这会严重影响浏览网页,请使用微软最新的Edge浏览器
厂商专区
产品/技术
应用分类

MOSFET米勒效应的计算与分析

2019-03-22 14:45 来源:互联网 编辑:Angelina

本文主要介绍下利用MOS管的密勒效应来设计冲击电流控制电路,通过定量分析较为精确的控制上电电流。

所谓冲击电流,电源电路上电时会对负载电容进行充电,相当于一个RC充电电路的电阻为零,理论上充电电流为无穷大。即使考虑导线的电阻和电容的ESR,这也是一个很大的冲击电流。网上有不少资料介绍米勒平台控制冲击电流的电路,但大多不满足硬件工程师的应用要求,即没有给出如何根据电流限制值,确定电路中器件参数。

一、什么是米勒效应

以增强型N沟道MOSFET为例介绍。

注:下文图中MOSFET符号是耗尽型,图暂时不做修改了。

情形一

假设N沟道MOSFET的漏源之间存在电容Cds,Cds充满电。

MOSFET米勒效应的计算与分析

此时在栅极加电压,则Ugs瞬间变为Vg并保持不变;MOS管打开,Cds开始放电,放电电流恒定不变,Uds线性降低,直到为0。

情形二

在情形一的基础上,再假设MOS管的栅源间存在电容Cgs。

MOSFET米勒效应的计算与分析

此时在栅极加电压,Cgs开始充电,Ugs上升,由于Rg的作用,充电电流越来越小,Ugs上升的速度越来越慢,即dUgs/dt越来越小。

Ids越来越大,到最大后保持不变;Uds下降,下降速度越来越快,最后一最大速度线性下降直到为0;

情形三

在情形二的基础上,再假设MOS管的栅漏之间存在电容Cdg。

MOSFET米勒效应的计算与分析

这就相当于引入了一个电压负反馈,由于Uds下降,带动Ugs下降,Uds下降越来越快,引起Ugs下降速度越来越快。

此时有两个因素会引起Ugs电压的变化:

Vg的充电作用,引起Ugs上升,但上升的速度越来越慢;

Cdg的电压负反馈,引起Ugs下降,且下降速度越来越快;

最终上升的速度与下降的速度相等,导致Ugs保持不变,即dUgs/dt=0,这就是密勒效应。

电流分析

下文从电流的角度,分析整个密勒效应的过程,电流方向如下图所示:

MOSFET米勒效应的计算与分析


首先,需要判断Idg的方向。Ugs上升,上升速度下降;Uds下降,下降速度上升;则,Cdg两端电压Udg是下降的,且下降的速度上升;因此,电容Cdg是向MOS管的漏极放电,Idg的方向,是通过Cdg从栅极流向漏极,且Idg越来越大,即:Ig=Idg+Igs。

Ig越来越小,Idg越来越大,最终Ig=Idg,此时Igs=0;即dUgs/dt=0。

再从MOS管的转移特性曲线上,分析情形三时,MOS管开启的整个过程。

MOS管开启后,Uds慢慢下降,最终由于密勒效应,进入恒流区,Ids保持不变,Uds继续下降,当Uds下降到一定值后,进入可变电阻区,Ugs开始上升。

可以看出,Ugs存在一个平台,所以密勒效应也叫米勒平台。

这是一个动态平衡的过程,当Ugs上升,Id变大,Uds下降,由于Cgd引入了电压负反馈,Ugs下降;从而Ig变大,Cgs充电,Ugs又上升。

基尔霍夫电压定律:Uds=Udg+Ugs

取导数:dUds/dt=dUdg/dt+dUgs/dt=dUdg/dt

又根据电容公式:Q=UC

即:dQds/Cdsdt=dQdg/Cdgdt

电荷对时间的变化率为电流

即:Ids/Cds=Idg/Cdg

二、简单的电路应用

下图是一个简单的密勒效应的实验电路,可以应用于控制工作电流不大的电路的上电冲击电流。

MOSFET米勒效应的计算与分析

电路中C1即Cgs,可以防止Vgs抖动,VIN开启通常都是开关或者直接插拔,Cgs有助于消除由于机械抖动导致的Vgs抖动,所以C1不能太小。C2即Cdg,Cdg与一个小电阻串联,主要目的是防止Idg过大,此外上电时,C1和C2有一个交流分压,所以C1最好远大于C2,防止MOS管误开启。D2是一个TVS,防止Vgs过压,导致MOS管闩锁。

三、相关计算

既然是计算,那么面临的问题就是计算什么?我们要利用密勒效应控制冲击电流,那么电流,也就是Ids是我们的计算对象。通过上文我们知道,密勒效应期间MOS管的栅源电压Ugs是保持不变的,那么Ugs就是我们需要计算的对象。

Ugs和Ids,共两个未知数,因此,需要建立两个独立的方程才能求得结果。

方程一

第一个方程来自于MOS管的特性,MOS管是电压控制型器件,由Ugs可以控制Ids,从教科书上可以找到如下公式 ,

Ids=Ido(Ugs/Ugs(th)-1)^2

上述公式需要两个参数,就是Ido和Ugs(th),获取这个参数最好的方式,就是从MOS管的规格书上找到转移特性曲线,如下图

MOSFET米勒效应的计算与分析

然后根据实际的Ids和Ugs,挑出两组值,就可以解出Ido和Ugs(th)。也可以用多组值利用数值方法,最小二乘法之类的拟合出一个Ido和Ugs(th)。

有了方程一,Ids和Ugs关系就知道了。

方程二

第二个方程来自于密勒效应,即密勒效应期间,栅源电源Ugs保持不变。

就是dUgs/dt=0,上文推出了Ids/Cds=Idg/Cdg。

此时又多了一个Idg为未知数,但Idg是实际电路电路参数决定的。

分析一下第二节中的电路图。

(Vin-Vsg)/R2-Idg=Vsg/R1

也就是(Vin-Vsg)/R2-IdsCdg/Cds=Vsg/R1,这就是方程二

方程二也说明可以通过电路参数人为控制密勒平台。

实测验证

有示波器和资源的可以焊接一个单板,利用示波器测试,看看与理论计算值是否相符。本人在公司验证过,但信息安全比较严,图片什么的就弄不出来了。好希望家里有个示波器。

要想在示波器上看到密勒平台,需要注意两点:

1)恒流期的Ugs要明显大于稳定时的Ugs(也就是R1和R2分压),太接近就看不出来。

2)密勒平台持续时间要长,太短就看不出来,也就是恒流对负载电容充电的时间,电容电压高于一定值就会退出恒流区,这就要求要么充电电流小,要么负载电容很大。

声明:本内容为作者独立观点,不代表电源网。本网站原创内容,如需转载,请注明出处;本网站转载的内容(文章、图片、视频)等资料版权归原作者所有。如我们采用了您不宜公开的文章或图片,未能及时和您确认,避免给双方造成不必要的经济损失,请电邮联系我们,以便迅速采取适当处理措施;欢迎投稿,邮箱∶editor@netbroad.com。

相关阅读

微信关注
技术专题 更多>>
研发工程师的工具箱
智慧生活 创新未来

头条推荐

电子行业原创技术内容推荐
客服热线
服务时间:周一至周五9:00-18:00
微信关注
获取一手干货分享
免费技术研讨会
editor@netbroad.com
400-003-2006