SITRI牵手NI引领国内射频及微波芯片测试研发

2016年1月18日——中国上海，上海微技术工业研究院（SITRI）作为致力于“超越摩尔”半导体技术及物联网应用研发和产业化的协同创新中心，宣布与美国国家仪器公司（National Instruments，简称NI）签署合作，联合成立“射频及微波芯片（RFIC/MMIC）测试技术联合实验室”，通过与在该领域测试技术拥有深厚积淀的NI合作，进一步提升上海微技术工研院的研发能力，引领我国RFIC/MMIC测试技术迈向国际化水平。

双方联合成立的“RFIC/MMIC测试技术联合实验室”将专注于射频及微波芯片测试技术的研究和开发，进一步推动该领域的集成测试与研发工作，包括物联网通信领域的高性能、高集成度射频前端通信产品研发，微波毫米波汽车雷达前端芯片的设计开发。同时，双方将在科学研究、技术创新、人才培养等诸多方面展开紧密合作。根据合作协议，上海微技术工业研究院将负责联合实验室的建设管理工作。

上海微技术工研院一直以来积极推进科研体制改革与创新，通过与业内领先企业的紧密合作，进一步推动RFIC/MMIC集成测试与研发工作。此次与NI的合作意味着上海微技术工研院在测试技术领域又迈出了重要一步。联合实验室的成立进一步确立了工研院和NI在射频及微波芯片测试技术领域的国内领先地位，联合实验室不仅具备科学价值，其实验成果在生产领域同样具备广泛的应用价值。

“NI在RFIC/MMIC测试技术领域的成就有目共睹，”上海微技术工研院总裁杨潇表示，“和NI合作成立联合实验室，有助于进一步提升上海微技术工研院的测试技术和研发能力。双方在多项领域紧密合作，相互裨益，共同推动未来测试技术领域的不断创新与发展。”

美国国家仪器中国区销售总监项晓峰表示：“NI的RF产品和解决方案可应用于从设计到测试等一系列过程，上海微技术工研院提供全方位的RF研发和产业化解决方案及物联网生态系统，本次合作有助于NI在中国市场的发展。”