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  分立器件老化系统
产品名称：分立器件老化系统
产品单价：面议
产品发布时间：2007-08-21
公司名称：杭州中安电子有限公司
系统能满足能满足各种二极管、三极管、场效应管和可控硅等分立器件进行高温反偏试验(HIGH TEMPERATURE REVERSE BIAS H.T.R.B).
  联系方式
  • 联系人：赵新科（销售 主管）
  • 电话：0571-85123400
  • 移动电话：013282145087
  • 传真：0571-85122978
  • 地址：杭州市西湖区塘苗路18号
  • 邮编：310013
  • E-mail：zadz_xn@126.com
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