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引言：
测试是IC设计的重要环节，精确的测试结果，快速的Debug方法，直接决定了芯片Time-To-Market的效率。IC咖啡携手美国国家仪器National Instruments准备了一系列芯片测试的新玩法，带你玩转IC测试。
Digital IC、Analog IC、RF IC， 各位IC designer奋斗在设计一线，不断的设计出速度更快、功耗更低、面积更小的芯片。 每一次流片回来，高强度的测试任务，对于测试工程师及IC设计师来讲，都是最为心情跌宕起伏的时刻：仿真很“丰满”，测试很“骨感”。
嘉宾介绍：
*陈宇睿 NI中国自动化测试产品市场经理
（另有更多嘉宾将陆续公布）
1.NI半导体解决方案介绍:
a)从研发验证到量产，覆盖整个半导体开发流程的测试验证
b)灵活的NI PXI平台，可以快速实现实验室的自动化测试及特性分析
c)基于PXI平台的STS系统，可以帮助产线测试降低成本，提升灵活性，复用前期研发及特性分析的IP，加速产品上市。
2.实验室测试自动化平台案例分析：
a)基于NI PXI平台，全球范围内组建了Validation中心，并且组织专业团队进行二次开发，从而使用同一套系统快速实现芯片的参数测试，功能测试以及系统级测试。
3.基于NI PXI搭建混合信号测试系统（暂定）：
a)PXI平台上具有2000+模块化仪器，其多样性可以实现复杂的混合型号测试。
4.NI RFIC测试解决方案（暂定）：
a)基于PXI平台和矢量信号收发仪VST，您可以轻松应对当前复杂且技术更新很快的RFIC测试。
-芯片设计工程师及部门主管
-芯片测试工程师及部门主管
-Verification 及 Qualification 部门工程师
-其他IC业内人士
欢迎您的到来！
活动主办方：美国国家仪器
美国国家仪器，世界上最大领先的硬件电子测试测量仪器公司。提供丰富的工具软件，如LabVIEW，AWR，以及高性价比的模块化硬件，覆盖IC从研发到量产的全产业链测试与仿真需求。40多年来，美国国家仪器公司(NI)帮助测试、控制、设计领域的工程师与科学家解决了从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战，提供大量的软件，硬件，覆盖IC全产业链测试与仿真需求。在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。如今，NI为遍布全球各地的35,000家不同的客户提供多种应用选择，在RF芯片设计和测试方面具有丰富的经验和专业知识。
特别鸣谢协办单位：
活动支持：
【时间】：2016年8月30日，13:30--17:00
【地点】：无锡滨湖区高浪路19号希尔顿逸林酒店三楼灵鸿厅（近锡士路），（注：8月30日活动茶歇在三楼廊厅，茶歇时间为15:00--15:30）
【费用】：免费（提供茶歇）
另外我们在以下3地也会有同样的沙龙。
深圳站【时间】：2016年8月23日，13:30--17:00
【地点】：深圳市南山区深南路9028号-2，深圳益田威斯汀酒店四楼会议室7&8
【费用】：免费（提供茶歇）
【报名】：http://h5.welian.com/event/i/MTYwNzQ=
苏州站【时间】：2016年8月31日，13:30--17:00
【地点】：苏州洲际酒店2楼会议室1（吴中区 金鸡湖畔旺墩路288号 ，近右岸街）
【费用】：免费（提供茶歇）
【报名】：http://h5.welian.com/event/i/MTYwNzA=
杭州站【时间】：2016年9月8日
【地点】：待定
【费用】：免费（提供茶歇）
注：活动限半导体行业相关工作人员参加（限额80人），因主办方将进行人员筛选，请认真填写报名信息，信息填写不完整及行业属性不相关者，不在邀请范围内，请悉知。入场请出示通知短信并携带名片。
引言：
测试是IC设计的重要环节，精确的测试结果，快速的Debug方法，直接决定了芯片Time-To-Market的效率。IC咖啡携手美国国家仪器National Instruments准备了一系列芯片测试的新玩法，带你玩转IC测试。
Digital IC、Analog IC、RF IC， 各位IC designer奋斗在设计一线，不断的设计出速度更快、功耗更低、面积更小的芯片。 每一次流片回来，高强度的测试任务，对于测试工程师及IC设计师来讲，都是最为心情跌宕起伏的时刻：仿真很“丰满”，测试很“骨感”。
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*陈宇睿 NI中国自动化测试产品市场经理
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1.NI半导体解决方案介绍:
a)从研发验证到量产，覆盖整个半导体开发流程的测试验证
b)灵活的NI PXI平台，可以快速实现实验室的自动化测试及特性分析
c)基于PXI平台的STS系统，可以帮助产线测试降低成本，提升灵活性，复用前期研发及特性分析的IP，加速产品上市。
2.实验室测试自动化平台案例分析：
a)基于NI PXI平台，全球范围内组建了Validation中心，并且组织专业团队进行二次开发，从而使用同一套系统快速实现芯片的参数测试，功能测试以及系统级测试。
3.基于NI PXI搭建混合信号测试系统（暂定）：
a)PXI平台上具有2000+模块化仪器，其多样性可以实现复杂的混合型号测试。
4.NI RFIC测试解决方案（暂定）：
a)基于PXI平台和矢量信号收发仪VST，您可以轻松应对当前复杂且技术更新很快的RFIC测试。
-芯片设计工程师及部门主管
-芯片测试工程师及部门主管
-Verification 及 Qualification 部门工程师
-其他IC业内人士
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活动主办方：美国国家仪器
美国国家仪器，世界上最大领先的硬件电子测试测量仪器公司。提供丰富的工具软件，如LabVIEW，AWR，以及高性价比的模块化硬件，覆盖IC从研发到量产的全产业链测试与仿真需求。40多年来，美国国家仪器公司(NI)帮助测试、控制、设计领域的工程师与科学家解决了从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战，提供大量的软件，硬件，覆盖IC全产业链测试与仿真需求。在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。如今，NI为遍布全球各地的35,000家不同的客户提供多种应用选择，在RF芯片设计和测试方面具有丰富的经验和专业知识。
特别鸣谢协办单位：
活动支持：
【时间】：2016年8月30日，13:30--17:00
【地点】：无锡滨湖区高浪路19号希尔顿逸林酒店三楼灵鸿厅（近锡士路），（注：8月30日活动茶歇在三楼廊厅，茶歇时间为15:00--15:30）
【费用】：免费（提供茶歇）
另外我们在以下3地也会有同样的沙龙。
深圳站【时间】：2016年8月23日，13:30--17:00
【地点】：深圳市南山区深南路9028号-2，深圳益田威斯汀酒店四楼会议室7&8
【费用】：免费（提供茶歇）
【报名】：http://h5.welian.com/event/i/MTYwNzQ=
苏州站【时间】：2016年8月31日，13:30--17:00
【地点】：苏州洲际酒店2楼会议室1（吴中区 金鸡湖畔旺墩路288号 ，近右岸街）
【费用】：免费（提供茶歇）
【报名】：http://h5.welian.com/event/i/MTYwNzA=
杭州站【时间】：2016年9月8日
【地点】：待定
【费用】：免费（提供茶歇）
注：活动限半导体行业相关工作人员参加（限额80人），因主办方将进行人员筛选，请认真填写报名信息，信息填写不完整及行业属性不相关者，不在邀请范围内，请悉知。入场请出示通知短信并携带名片。
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