• 回复
  • 收藏
  • 点赞
  • 分享
  • 发新帖

请问IWATT的技术支持

目前在用IW1692-00做一款12W,500mA的恒流输出的案子.

最近调试了几天,存在如下疑问:

1. 6脚的输入电压检测,我如果用2*2M的电阻,除了限制高低压以外,是否还有限制最大V*S的作用?可以这样吗?

2.过冲是一个很普遍的现象,有没有好的办法抑制这个问题。

3.普遍存在烧MOS,IC,采样电阻的所谓炸鸡的现象。据我观察,不是高压击穿MOS。能不能把这类问题有一个可信的   技术分析,让后来者避免这些问题。炸鸡现象与电压过冲有联系吗?(个人觉得有直接联系)

4.这款IC,是否存在技术缺陷,是否可用,是否会停产,或者是改进。最新版本是什么?(不要老提IW3620)

希望专业人士给予技术支持。请做广告的绕行!

如果有不方便说的,请站内短信通知!

谢谢!

 

全部回复(7)
正序查看
倒序查看
vivian315
LV.5
2
2012-07-13 21:24

回复楼上ballastt哥:

1.6脚VIN 不但有输入过压欠压检测,而且通过RC常数会影响软启动时间。
2.这款IC是同时具有CV和CC模式的,早期主要用于充电器这块,先是电压检测起用后再起用电流检测所以会有过冲,调整空载电压与实际LED负载电压与之匹配,可减小过冲电流。
3.MOS击穿后就会产生烧IC和取样电阻,这与变压器的设计、磁芯材质、温度、PCB走线、VSENSE电阻选取、MOS品质、IPK电流、有关。
4.这款IC不存在技术缺限,所以也不会有什么新版本。

希望能对你要解决的问题有帮助!

如以上回复有疑问,可以随时给我电话,我再请我们FAE和你直接交流沟通

宇昊电子/陈沛伶 

Tel:   186 2030 2227
         137 6029 2227

0
回复
ballastt
LV.6
3
2012-07-14 08:57
@vivian315
[图片]回复楼上ballastt哥:1.6脚VIN不但有输入过压欠压检测,而且通过RC常数会影响软启动时间。2.这款IC是同时具有CV和CC模式的,早期主要用于充电器这块,先是电压检测起用后再起用电流检测所以会有过冲,调整空载电压与实际LED负载电压与之匹配,可减小过冲电流。3.MOS击穿后就会产生烧IC和取样电阻,这与变压器的设计、磁芯材质、温度、PCB走线、VSENSE电阻选取、MOS品质、IPK电流、有关。4.这款IC不存在技术缺限,所以也不会有什么新版本。希望能对你要解决的问题有帮助!如以上回复有疑问,可以随时给我电话,我再请我们FAE和你直接交流沟通宇昊电子/陈沛伶 Tel:  18620302227        13760292227

谢谢薇薇安的回复!但可能有点套话!

1.6脚的电阻阻值,根据DATASHEET描述,具有限制最大伏秒的功能。从测试看似乎不具备软启动时间的设定。而软启动的时间似乎和Vsense的电压高低有关。也就是您说的把空载电压提升,可以减小过冲的时间。但不减少过冲的高低。

3.由于IC是每个周期检测电流的,似乎不至于那么容易烧MOS。所以期待非笼统的说法。

4.一款好的IC是方便,可靠。也许我们的想法不一样。也许是其本不应该用来驱动LED.

0
回复
2012-07-17 12:20
@ballastt
谢谢薇薇安的回复!但可能有点套话!1.6脚的电阻阻值,根据DATASHEET描述,具有限制最大伏秒的功能。从测试看似乎不具备软启动时间的设定。而软启动的时间似乎和Vsense的电压高低有关。也就是您说的把空载电压提升,可以减小过冲的时间。但不减少过冲的高低。3.由于IC是每个周期检测电流的,似乎不至于那么容易烧MOS。所以期待非笼统的说法。4.一款好的IC是方便,可靠。也许我们的想法不一样。也许是其本不应该用来驱动LED.

6脚Rvin确实会影响最大VT值的。

MOS损坏一般是热损坏,如果不是高压击穿MOS,那么MOS损坏只能是电流过大,持续导通时间很长,发热过度损坏了。测量Vds应该在开关机,短路情况下,采样模式用峰值采样,抓峰值电压的。

IC损坏方面,如果ic的各脚位参数均在合理范围内,那么IC损坏从布板方面考虑了,IC是数字芯片,对ESD,杂讯等比较敏感,其实其他品牌也都一样。按照IW的PCB布板要求来,注意dv/dt,di/dt走线与高阻抗脚走线关系,然后提供一条尽量短不且经过IC的放电路径。

0
回复
ballastt
LV.6
5
2012-07-19 10:10
@cj569874123
6脚Rvin确实会影响最大VT值的。MOS损坏一般是热损坏,如果不是高压击穿MOS,那么MOS损坏只能是电流过大,持续导通时间很长,发热过度损坏了。测量Vds应该在开关机,短路情况下,采样模式用峰值采样,抓峰值电压的。IC损坏方面,如果ic的各脚位参数均在合理范围内,那么IC损坏从布板方面考虑了,IC是数字芯片,对ESD,杂讯等比较敏感,其实其他品牌也都一样。按照IW的PCB布板要求来,注意dv/dt,di/dt走线与高阻抗脚走线关系,然后提供一条尽量短不且经过IC的放电路径。

谢谢你的帮助。

其实,个人感觉这款IC还是不错的,如果能把过冲的问题有一个有效的解决办法的话,应该就更精彩了。我曾想过在电流侦测脚加一个的阻容软启动的电路。

再者,MOS一定要选用耐瞬间电流大的。如果设计不好,由于电流采样有一定的延时,当电感量过小的时候,很容易烧MOS.

0
回复
vivian315
LV.5
6
2012-07-19 18:09
@ballastt
谢谢薇薇安的回复!但可能有点套话!1.6脚的电阻阻值,根据DATASHEET描述,具有限制最大伏秒的功能。从测试看似乎不具备软启动时间的设定。而软启动的时间似乎和Vsense的电压高低有关。也就是您说的把空载电压提升,可以减小过冲的时间。但不减少过冲的高低。3.由于IC是每个周期检测电流的,似乎不至于那么容易烧MOS。所以期待非笼统的说法。4.一款好的IC是方便,可靠。也许我们的想法不一样。也许是其本不应该用来驱动LED.
问题解决没?
0
回复
ballastt
LV.6
7
2012-07-20 13:42
@vivian315
问题解决没?
谢谢关心,目前在用IW3620.
0
回复
2012-07-20 15:14
@ballastt
谢谢关心,目前在用IW3620.
呵呵,还是用3620了呀。。
0
回复