| 1 | 结构五金件检查 | |||||||
| 1.1 | 外观尺寸检查 | |||||||
| 1.2 | 电感检查 | |||||||
| 1.3 | 螺丝检查 | |||||||
| 1.4 | 螺姆检查 | |||||||
| 1.5 | 垫片检查 | |||||||
| 1.6 | 弹簧检查 | |||||||
| 1.7 | 开关检查 | |||||||
| 1.8 | 五金件盐雾测试 | |||||||
| 1.9 | USB端子检查 | |||||||
| 2 | 静态电性能测试 | |||||||
| 2.1 | 空载工作状态测试 | |||||||
| 2.2 | 空载输入电流和功率测试 | |||||||
| 2.3 | 空载到满负载时的输出电压范围测试 | |||||||
| 2.4 | 输入功率因素和功率损耗测试 | |||||||
| 2.5 | 满负载输入电流测试 | |||||||
| 2.6 | 输出纹波和噪音测试 | |||||||
| 2.7 | 输出恒流精度测试 | |||||||
| 2.8 | 输出电压和电流曲线 | |||||||
| 2.9 | 线性和负载调整率测试 | |||||||
| 2.10 | 组合调整率测试 | |||||||
| 2.11 | 转换效率测试 | |||||||
| 2.12 | 能效测试 | |||||||
| 3 | 关键元器件的波形测试 | |||||||
| 3.1 | 开关管电压和电流波形测试 | |||||||
| 3.2 | 输出整流二极管电压和电流波形测试 | |||||||
| 4 |
| |||||||
| 4.1 | 输入浪涌电流测试 | |||||||
| 4.2 | 输入电压变动测试 | |||||||
| 4.3 | 输出暂态响应测试 | |||||||
| 4.4 | 输出峰值功率测试 | |||||||
| 4.5 | 输出重轻载变化测试 | |||||||
| 4.6 | 转换延迟时间测试 | |||||||
| 4.7 | 开机延迟时间测试 | |||||||
| 4.8 | 输出暂态响应时间测试 | |||||||
| 4.9 | 输出动态响应时间测试 | |||||||
| 4.10 | 保持时间测试 | |||||||
| 4.11 | 上升时间测试 | |||||||
| 4.12 | 下降时间测试 | |||||||
| 4.13 | 输出过冲幅度测试 | |||||||
| 5 | 保护电路测试 | |||||||
| 3.1 | 短路保护测试 | |||||||
| 3.2 | 过流保护测试 | |||||||
| 3.3 | 过压保护测试 | |||||||
| 3.4 | 过温保护测试 | |||||||
| 6 | 电源输入端测试骚扰 | |||||||
| 6.1 | 输入掉电测试 | |||||||
| 6.2 | 噪音检查 | |||||||
| 6.3 | 闪电测试 | |||||||
| 6.4 | 雷击测试 | |||||||
| 6.5 | 重启动后关断测试 | |||||||
| 6.6 | 输入电压升压破坏测试 | |||||||
| 6.7 | 输入欠压测试 | |||||||
| 6.8 | 输入缓慢变动测试 | |||||||
| 7 |
| |||||||
| 7.1 | PCB爬电距离检查 | |||||||
| 7.2 | 中性线的爬电距离检查 | |||||||
| 7.3 | Y电容爬电距离检查 | |||||||
| 7.4 | 变压器爬电距离检查 | |||||||
| 7.5 | 开关管爬电距离检查 | |||||||
| 7.6 | 光电耦合器爬电距离检查 | |||||||
| 8 | 安规测试 | |||||||
| 8.1 | 耐压测试 | |||||||
| 8.2 | 绝缘阻抗测试 | |||||||
| 8.3 | 绝缘耐压破坏测试 | |||||||
| 8.4 | 漏电流测试 | |||||||
| 8.5 |
| |||||||
| 8.6 | 钢球撞击测试 | |||||||
| 8.7 | 异常操作测试（短路和开路） | |||||||
| 8.8 | AC输入低电压测试 | |||||||
| 8.9 | AC输入高电压测试 | |||||||
| 8.10 | 输出过载测试 | |||||||
| 9 | 稳定性测试 | |||||||
| 9.1 | 静态元器件的应力分析 | |||||||
| 9.2 | 变压器磁饱和检查 | |||||||
| 9.3 | 变压器最大磁通密度检查 | |||||||
| 9.4 | 电解电容寿命检查 | |||||||
| 9.5 | MTBF平均无故障时间计算 | |||||||
| 9.6 | 空载老化(4Hrs)试验 | |||||||
| 9.7 | 负载老化(4Hrs)试验 | |||||||
| 9.9 | 电源开关循环测试 | |||||||
| 9.9 | 老化(寿命)试验 | |||||||
| 10 |
| |||||||
| 10.1 | 传导干扰测试 | |||||||
| 10.2 | 辐射骚扰测试 | |||||||
| 10.3 | 雷击破坏测试 | |||||||
| 10.4 | 静电放电测试 | |||||||
| 10.5 | 静电放电破坏测试 | |||||||
| 10.6 | 接触放电测试 | |||||||
| 10.7 | 空气放电测试 | |||||||
| 10.8 | 电快速瞬变耐受性测试 | |||||||
| 11 | 潜在的安规问题测试 | |||||||
| 11.1 | 输出贴片电容检查 | |||||||
| 11.2 | AC输入线检查 | |||||||
| 11.3 | DC输出线检查 | |||||||
| 11.4 | 引线拉力测试 | |||||||
| 11.5 | 插脚拉力测试 | |||||||
| 11.6 | 线材拉力测试 | |||||||
| 11.7 | 线材摇摆测试 | |||||||
| 11.8 | 机械的插拔测试 | |||||||
| 11.9 | 发热元件检查 | |||||||
| 11.10 | 外壳印字耐摩擦测试 | |||||||
| 11.11 | 非移性测试 | |||||||
| 11.12 | 外观标示检查 | |||||||
| 11.13 | 全部回复(29)
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@gongjm2005 他家的灯可能用于载人飞船上照明，应该还要补充一些测试内容：防紫外线；超重状态；失重状态......
晶片特性 15mA~40mA單 / 雙 / 三 通道定電流驅動器 固定電流設計，不需要外加電阻設定電流 寬廣電源設計 , 不需另外提供電源 3支 ( 單通道 ) /5 支 ( 雙通道 ) /8 支 ( 三通道 ) 封裝腳位 電源電壓範圍 1.6V ~ 12V 輸出承受電壓範圍 0.4V ~ 17V VDD腳可做 PWM 調光 電位爬升時間 / 電位下降時間 2uS/2uS 工作溫度 -40 ℃ ~ 120 ℃ 高電壓應用時晶片可串接使用 * 通道與通道間輸出電流差異低於 ± 5% 負載調變率 1%/V 產品說明 NU501系列是一簡單的定電流元件 , 非常容易使用在各種 LED 照明產品 . 其具有絕佳的負載與電源調變 率和極小輸出電流誤差 , NU501 系列能使 LED 的電流非常穩定 , 甚至在大面積的光源上 , 電源及負載波動範圍大時都能讓 LED 亮度均勻一致 , 並增長 LED 使用壽命。 除了支援寬廣電源範圍外 , NU501 的 VDD 腳可以充當輸出致能 (OE) 功能使用 , 可配合數位 PWM 控制線路 , 達到更精準的灰階電流調整應用。當 VDD and Vp 腳短接在一起時 , NU501 極小工作電壓的特性能當做一個二極管 current regulative diode (CRD) 來使用 . 這個功能使 NU501 在應用上非常容易 . 就像一顆二極管一樣 , 當這二極管應用在一串 LED 時 , 即能使電流恆定。 在高壓電源和低 LED 負載電壓的應用場合 , 多個 NU501 能夠串接使用來分攤多餘的電壓 . 這獨特過高電壓的分攤技術 , 非常適合在更寬廣電源電壓範圍的應用 , 而此特性是其他廠家的晶片所沒有的。用于LED日光灯,背光灯,一般LED照明,RGB装饰灯 欢迎咨询洽談 甘小姐: 0755-33034517/13798370769. QQ1262314675 贸易通:hqt888， 期待您的佳音，谢谢！ 0 @zjyang1981 老兄，有没有这方面相关的一些资料或者测试标准什么的，能给发一份么？zj_yang1981@126.com 电源老化的原理介绍： 电源老化属环境应力筛选(Environmental Stress Screenign)简称ESS，为现代高科技电子产品一种相当盛行的质量与可靠度保证方法。顾名思义，环境应力筛选乃利用外加的环境应力，使潜存于电子硬品中因制成中因软弱零组件与不良工艺等因素所造成之暇疵提早发生而暴露出来，然后利用各种适切的检验或测试方法，将这些带有疵病的产品找出来予以去除，或采取改正行动加以检修，以便提高硬品之制造质量，维持设计时赋予之水平，因此通过筛选的交货产品都是具有优良质量与高可靠度者，可以让客户安心的正常使用。 何为电源产品的生命周期? 产品的失效率随生命周期时间变化，一般的变化趋势呈浴缸形，称之为浴缸曲线(bathtub cure) ，典型的产品浴缸曲线如下图所示。失效率浴缸曲线大致可分为三个阶段：早夭失效期(infant mortality period) 、偶发失效期(random failure period)和磨耗失效期(wear-out failure period) 。当产品刚制造完成时，就好像婴儿容易生病一样，失效率很高，因而称为早夭失效期，在这个阶段中产品的失效率随时间增加而逐渐递减，称为递减失效率(decreasing failure rate , DFR)。当失效率随时间减低至某一程度后即不再有显著变化，失效现象为偶然随机发生，因此称为偶发失效期，所以电源产品的老化便是检出产品的早夭失效，不难得出一个结论：行之有效的电源老化方式是对产品品质的保证.
电子负载工作模式介绍 ： 中科源电子负载从单路到多路负载全系列产品线，负载功率从30W～1000W各种规格，总有一种规格可以满足了您所需，高可靠性及高精确度能满足不同阶段的需求，让您的电源老化测试无忧。具恒定电压、恒定电流多种负载操作模式，短路测试、电池充放电测试以及动态测试等功能满足您多样化的测试需求，适用于电源产品生产线测试，老化测试，产品维修,品质检测等多种用途。 电子老化负载与传统电阻负载的对比 传统电阻型负载的缺点有： 1.电阻阻值固定几种规格可选; 2.电源规格多样电阻无法调到老化所需的准确电流; 3.被老化电源不能准确100%负载老化; 4.电阻老化更改负载大小，需要人工逐个更改接线效率低下; 5.电阻负载故障率高，温升后阻值偏差大; 6.调整负载大小需先计算，才能得到设置的大约电流值; 7.维修不便需有电子技术的工人完成; 8.电阻负载需要人工逐个巡查; 9.容易造成产品的假老化,产品品质不可控; 10.电阻负载因人工手工更换负载大小,出错机率大。 电子负载的优点有: 1.为定电流模式负载大小设定是线性平滑的； 2.电子负载只据DC JACK的不同产品更换即可; 3.整个老化车或区域可统一调整负载大小，保证老化的一致性; 4.电子负载MTBF80000H以上，故障少提高了工作效率; 5.操作方便，只需一般的工人即可完成，有防呆操作不易出错; 6.筛选异常产品直观,同时警报提示，保证老化产品品质; 7. 一个人可以管理多个老化区域，节省人工可降低人工费用； 8.负载设置范围宽可以适应多变化电源规格; 9.电子负载在高温满载下监视被老化产品电性，能保障产品品质； 10.电子负载采用模组式结构维修方便，本公司终身维护， 11.可以记录与追朔所有被测电源的电气性能，便于品质分析， 12.电脑监控集中管理，可有效监管老化制程的品质， MCU程控型电子负载模块
MCU型电子负载模块规格书 1. 高速数位MCU为主控芯片； 2. 采用RS485国际标准通讯协议； 3. 主要器件均为进口材料； 4. 恒压、恒流双负载模式(CC/CV) 5. 各通道可独立设定负载参数； 6. 保护OPP/OTP功能完善； 7. 加载及回读数据快速； 8. 提供协议码用户可二次开发； 9. 独立直流供电隔离型； 10. 通讯光电隔离,无电解及继电器； 11. 多通道并联使用； 12. 可靠性MTBF在80000H以上； 13. 采用舰空铝材温控风冷散热； 14. 开机自检功能； 15. 坚固型快速接插件； 16. 模块化安装简捷便利； 17. 可手动设定电子负载模块地址码； 18. 多台联机兼容性功能强大； 19. 可用电脑及触摸屏监控； 20. 自主研发自有知识产权. 成品老化车
连接LED 球泡灯电源实图
连接LED T8灯电源实图
连接LED路灯电源实图
LED电源老化车实物图
温控型LED电源老化柜实物图
主要功能介绍
由于篇幅有限未能介绍详尽， 各位网友若要了解更多资料， 请发邮箱：szcpet@163.com 手机联络，13510007658 ， 联络人：吴涛 0 立 即 发 帖 | |||||||
人都是假的！
