• 回复
  • 收藏
  • 点赞
  • 分享
  • 发新帖

MOSFET静态参数理解及测试项目方法

1、V(BR)DSS:漏-源(D-S)击穿电压,它具有正温度特性。

Test Condition:Vgs=0,ID=250uA

2、IDSS::漏-源(D-S)漏电流。一般在微安级。

Test Condition:Vgs=0,VDS=RatedVDS

3、IGSS:栅源驱动电流或反向电流。一般在纳安级。

Test Condition:Vds=0,VGS=RatedVGS

4、VGS(th):开启电压(阈值电压),它具有负温度特性。

Test Condition:Vgs=Vds,ID=250uA

5、RDS(on):在特定的Vgs(一般为2.5V或4.5V或10V)及漏极电流(我们一般取1/2RatedID)的条件下,MOSFET导通时漏源间的阻抗,具有正温度特性。

功率MOSFET 在电感型负载回路中,MOSFET由开启状态到瞬间关断时,漏源之间的反偏体二极管用于释放电感负载中存储能量的同时,也常常因此承担雪崩击穿带来的对器件的影响。

全部回复(0)
正序查看
倒序查看
现在还没有回复呢,说说你的想法