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关于Mosfet和GaN的仿真问题

在一些仿真软件比如PSIM中,我们可以直接选用一些开关器件,但是这样的开关器件在初始状态下是理想的,是没有损耗以及通断延时的。

我现在希望通过仿真去获得GaN开关器件与MOSFET开关器件的损耗对比,我可以在一些厂家中获得GaN以及MOSFET的参数,但是这些参数应该怎样在PSIM或者LT SPICE中得到应用从而使我们的仿真具有现实意义呢?

以及哪些区别会具有实际的意义?比如功率损耗以及什么其他的区别呢?

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2018-07-20 09:05
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LWP1994
LV.1
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2018-07-26 21:03
目前EPC、GaN Systems给出的LTspice仿真模型应该是带寄生参数的模型。仿真的时候要把PCB中的寄生参数提取出来带进去,得到的仿真波形应该和实际实验比较吻合吧
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