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车充高压测试烧毁芯片问题

如图,正常测试,输入电源通过红线和地接在一起,负载仪直接接到VOUT+和VOUT-之间,Rsen是采样电阻,24V触碰上电正常;

现在客户为了测试方便,直接把输入电源的地和负载的地接到一起,同时接到VOUT-,24V触碰上电,每次触碰几次就把芯片给烧坏了,这个有可能是什么原因??

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2018-07-17 20:16

这样接是错误的;

芯片的GND和输入电源的地都不接一起了,不烧才怪。

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chdbybc
LV.4
3
2018-07-17 20:17
听课。
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2018-07-18 11:26
@154600
这样接是错误的;芯片的GND和输入电源的地都不接一起了,不烧才怪。
但是客户就要这么测,测试架做起来很方便,咋搞?
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jlh213
LV.6
5
2018-07-18 17:53
这样接是不是相当于把Ics的电流感应电阻短路了呢?要是话,不损坏才怪!
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houran77
LV.6
6
2018-07-19 23:40

他唯一的过载保护功能被你去掉了,还指望他不坏!

只能呵呵了,,,不表态!

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