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电源输出电压Vo上漂杂乱跳动,如何排查故障?

各位前辈大神好,我最近再调试一款全桥dcdc电源,输入为48V,输出为10V。用的是光耦反馈,III型补偿的电压控制模式。
手上的3只样品,正常工作时,输出约为9.9V,纹波约80mV。可是接下来,奇怪的现象发生了。
1号样品,在sense+端焊接测试线后,完成bode图测试,并在85度高温箱烘烤后,Vo上漂至10.3V,纹波出现200mV峰值的跳动,时而200mV,时而100mV,随机的跳动。
2号样品,在sense+端焊接测试线后,常温下完成伯德图测试,Vo出现杂乱的上漂至10.5-10.6V。
3号样品,在sense+端焊接测试线后,常温下进行伯德图测试,但我用200度热风枪吹光耦器件,光耦周边温度约85度,Vo也出现了杂乱的上漂至10.2-10.3V.
同样的产品,上周我测量了5只,高温试验也完成,但没有进行伯德图测试,都没有出现这种Vo乱跳的现象。
我后来,去掉了sense+端焊接的测试线,3只样品,1只恢复正常,1只恢复正常进行高温试验后又出现异常Vo降至4-5V,1只一直异常。
这次3只样品和上周测试的5只样品一模一样,没有参数上的更改,唯一的差别就是进行了伯德图测试。
我怀疑是伯德图测试带来的影响,但是又不是很确定,因为以前也进行过其他产品的伯德图测试,均没有发生这样的异常。不过,去掉sence+测试线后,确实有两只恢复正常了,虽然其中一只不久就异常了。
我也怀疑是不是高温试验的影响,不过上周也做了高温试验,没有这样的异常。
所以我现在很疑惑。
我对基准进行了加电测试,3只样品的基准电压都是2.5V,没有变化。
请问,我该从哪些方面着手,去排除Vo上漂杂乱跳动的故障?还请高手点播。
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筱眼睛
LV.5
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2018-06-21 09:06
沙发
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2018-06-21 12:23
我做了高温试验,发现高温烘烤后,出现Vo上漂。而之前常温下,测试伯德图,并不会出现这种情况。比较纳闷的是,上周测试的5只,高温试验都没有问题。我量测了2.5V基准,是稳定的。但是分压电阻上的电压有点问题,基本是2.5V,但是会有杂讯和波动,不是很稳定。但我弄不清原因,难道高温把分压电阻烤坏了?
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2018-06-22 08:34
我检查了运放的输入端,接输入正端IN+的基准2.5V是稳定的,但是接输入负端的分压电阻上的电压平均值是2.5V,但是有波动,还是杂乱的。我怀疑是运放LM158有损伤,但是我不知道该怎么进一步排查?
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2018-06-22 13:13
@邹姜一郎
我检查了运放的输入端,接输入正端IN+的基准2.5V是稳定的,但是接输入负端的分压电阻上的电压平均值是2.5V,但是有波动,还是杂乱的。我怀疑是运放LM158有损伤,但是我不知道该怎么进一步排查?
样品放了一个晚上,跳动到10.2V的那个又莫名其妙的好了,真是让人摸不着头脑。最怕这种时而好时而坏的现象。
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2018-06-25 08:34
@邹姜一郎
样品放了一个晚上,跳动到10.2V的那个又莫名其妙的好了,真是让人摸不着头脑。最怕这种时而好时而坏的现象。
问题解决了,居然是光耦在高温下工作异常。
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2018-06-25 08:48
@邹姜一郎
问题解决了,居然是光耦在高温下工作异常。

你设置光耦的IF电流时多大的,确定是光耦在高温情况下造成输出电压跳动的吗

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2018-06-25 13:33
@XHH9062
你设置光耦的IF电流时多大的,确定是光耦在高温情况下造成输出电压跳动的吗
我现在还真不太确定是不是光耦的问题,之前3块电源都出现Vo上漂波动问题,我把3个光耦都换了,然而有2块好了,还有1块问题依旧。所以也不能确定就是光耦损伤,但却是跟这个有关系。光耦的IF之前约3mA,我调整到最大时约6mA。之前3mA是没有问题的。
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2018-06-25 16:00
@邹姜一郎
我现在还真不太确定是不是光耦的问题,之前3块电源都出现Vo上漂波动问题,我把3个光耦都换了,然而有2块好了,还有1块问题依旧。所以也不能确定就是光耦损伤,但却是跟这个有关系。光耦的IF之前约3mA,我调整到最大时约6mA。之前3mA是没有问题的。
不一定是光耦问题,首先要明白电源的输出电压输温度变化而小幅度变化是肯定存在的。其次在测试中一些小信号线路中最好不要有焊接太长的引线,这时候的长引线就相当于天线一样,会接收到强干扰信号,对电源控制产生影响。
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2018-06-26 08:36
@峰谷浪子
不一定是光耦问题,首先要明白电源的输出电压输温度变化而小幅度变化是肯定存在的。其次在测试中一些小信号线路中最好不要有焊接太长的引线,这时候的长引线就相当于天线一样,会接收到强干扰信号,对电源控制产生影响。

谢谢您的指点,让我茅塞顿开。

我手上的3块样品都出现了这种输出上移,纹波跳动的现象。我更换了3块样品的光耦,其中两个样品(这两块样品没有焊接测试线)恢复正常了,另一块样品还有故障。我将这个样品sence+电阻上焊接的测试线去掉之后,第3块样品也恢复了正常。我怀疑光耦受损,是因为之前用200度热风枪吹光耦,观察负载阶跃的现象。我想可能是热风对光耦产生了损伤。

您说的天线干扰原因正好可以解释焊在sence+电阻上的测试线对输出电压产生影响,让我弄清了这个疑惑。

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2018-06-28 08:50
@邹姜一郎
谢谢您的指点,让我茅塞顿开。我手上的3块样品都出现了这种输出上移,纹波跳动的现象。我更换了3块样品的光耦,其中两个样品(这两块样品没有焊接测试线)恢复正常了,另一块样品还有故障。我将这个样品sence+电阻上焊接的测试线去掉之后,第3块样品也恢复了正常。我怀疑光耦受损,是因为之前用200度热风枪吹光耦,观察负载阶跃的现象。我想可能是热风对光耦产生了损伤。您说的天线干扰原因正好可以解释焊在sence+电阻上的测试线对输出电压产生影响,让我弄清了这个疑惑。
理论推导+实验验证=结论
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2018-06-28 13:10
@峰谷浪子
理论推导+实验验证=结论
后来又发生了奇怪的现象,3个样机修好后,我又在sence电阻上焊接了测试线,测试了一段时间其中2只果然出现了输出电压乱跳的现象,于是我把2只产品的测试线去掉,结果1个恢复正常,1个还会乱跳。我现在得到的现象是:测试线确实是引起输出电压乱跳的原因,但是并非所有的样品加上测试线立马就会干扰,通常要测试一段时间后会出现。出现异常后,去除测试线又不能完全解决异常。所以我就揣测是,测试线会引入干扰,但这个干扰需要工作一段时间后出现,也有可能不出现。干扰有可能会使光耦受损,也有可能不影响其他器件。还是有点琢磨不透。
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