超声扫描作为一种常规的无损检测手段，可以给我们提供很多有用的信息，解读这些信息的前提是你要了解超声扫描的特性，能够对扫描结果进行正确的解读。
1. 超声扫描成像的基本原理
超声扫描检测的原理是利用脉冲回波技术，由一定的声学组件发射超声脉冲，声波与被测样品发生作用后，反射波被接收回来并转换成视频信号的过程。超声扫描采用完全不同的灰度机制成像，依赖于被检材料表面和内部各种物理参数的变化，因此能够详细的表征产品内部材料的物理特性变化。超声扫描图像中除了含有样品的正常形态，同样也包含了各种缺陷信息。
2. 几种常见的缺陷形态。
超声扫描主要用于检测样品内部分层，空洞，夹杂，裂纹等缺陷。下面以功率MOS管的扫描结果为例，说明在C-SAM扫描结果中，各种缺陷的识别。
更多缺陷识别及不同因素引起的干扰，敬请期待！
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声扫缺陷识别第二波
继续超声扫描缺陷识别及可能出现的误判，同样以实例说明。
