功率MOSFET及雪崩测试的基本概念，及雪崩测试后产生的失效样品的研究分析

本文介绍了功率MOSFET及雪崩测试的基本概念，并对雪崩测试后产生的失效样品进行了研究分析，从而得出封装过程及晶圆设计缺陷均能引起器件雪崩失效。有不足之处请指正 相互学习，谢谢！MOSFET雪崩测试及失效模式分析.pdf