Model 7925 TO-CAN 封装外观检测系统
Chroma 7925为自动化TO-CAN封装外观检测系 统,可提供封装前后的透镜与金属外盖缺陷进行 检测。透过高解析度之镜头以及多样的光源配 置,可检出30um以上的透镜刮伤及异物。由于 载盘可能存在制造公差导致待测物对焦距离均不 相同,Chroma 7925配置了自动对焦系统,可自 动计算待测物之对焦距离并进行补偿,以确保可 以取得清楚的检测影像。
使用者可以自由设定良品与不良品之规则及缺陷 编码,并依据编码进行挑拣。从上片、检测、挑 拣及下片均为全自动化流程,大幅降低人员操作 及制程管理发生错误的机会。检测完成后,工程 师可以取得详细的缺陷量化数据,以及储存缺陷 影像以利于再判读。相较于人工目检无法保留检 测资料,使用Chroma 7925所取得之资料,将有 助于分析制程问题,并进一步提升产品良率。