58131是专针对OLED寿命试验所设计的测试系统，58131可作电气特性的量测，如正负电压、电流的供给及量测、亮度的量测及自动量测OLED亮度寿命时间，并可选购频谱分析卡，量测光学特性的功能。58131采用PRECISION SOURCE-AND-MEASURE UNITS "PMU"的量测方式，此种系统架构，在任何待测物发生短路或开路时，并不会影响其他待测物之量测或造成系统的任何损毁，每张PXI卡片可提供两组独立且精密的电压、电流输出及量测功能，仅需增加PXI卡片即可立即增加量测组数。
本系统以开放式的PXI架构为硬体基础，可任意扩充测试组数，PXI系统具有先进的 "Hot plug ＆ play"功能，即当测试中的某一待测物发生短路或故障时，仅需移除发生故障之待测物，不影响其他测试中之待测物，系统仍可持续测试，此功能将是PXI架构之最大优点，可大量提升测试效能。
人性化的软体介面，可自行设计电源输出模式、电源参数值、量测时间、亮度校正等项目，并有曲线绘图、资料表显示及储存，让您可轻松分析测试报告。另外，测试治具的设计，便利的19吋机架，可随意移动测试环境，精密轻巧的测试盒，可轻松替换待测物，电脑主机及荧幕组装于机架上，以随时了解测试状况，18个插槽的PXI机箱，可同时检测34组待测物，让你拥有体积最小，待测模组最多的超迷你测试系统。
58131 PXI OLED Lifetime Test System 为精巧型的测试系统，提供了最好的量测能力，并采用 "PMU"量测方式，及易于操作的人性化介面，为最佳的OLED 寿命周期测试解决方案。
