电容器插件的失效模式，PI芯片是如何避免的

电容器的常见失效模式有:击穿、开路、电参数变化(包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上下班升等)、漏液、引线腐蚀或断裂、绝缘子破裂或表面飞弧等.引起电容器失效的原因是多种多样的.各类电容器的材料、结构、制造工艺、性能和使用环境各不相同,失效机理也各不一样. 各种常见失效模式的主要产生机理归纳如下. 1、常见的七种失效模式 (1) 引起电容器击穿的主要失效机理 ① 电介质材料有疵点或缺陷,或含有导电杂质或导电粒子; ② 电介质的电老化与热老化; ③ 电介质内部的电化学反应; ④ 银离子迁移; ⑤ 电介质在电容器制造过程中受到机械损伤; ⑥ 电介质分子结构改变; ⑦ 在高湿度或低气压环境中极间飞弧; ⑧ 在机械应力作用下电介质瞬时短路. (2) 引起电容器开路...