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辐射发射测量方法-1Ω/150Ω直接耦合法

2018-06-14 09:25 来源:互联网 编辑:Emma

辐射发射测量方法-1Ω/150Ω直接耦合法

德国LANGER公司开发和生产的用于测量IC引脚传导发射的1欧姆/150欧姆组件,符合IEC61967-4规定的两种测试方法:1Ω测试法和150Ω测试法。1Ω测试法用来测试接地引脚上的总骚扰电流,150Ω测试法用来测试输出端口的骚扰电压。

• 测试示意图

11

• 测试连接图

22

• 探头技术探头参数

P602 0.1Ω高频电流表

P602 是0.1Ω探头,用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。它的内阻非常小,因此测量误差比P603型电流表要小。测量时,把它接到电源引脚(Vdd/Vss)或信号引脚上。

- 频率范围:9 kHz-3 GHz;

- 耦合电容的容量:8 µF

- 测量输出:50 Ω, SMB;

- 电压传递系数:-6dB

- 电流表分流器:0.1Ω

- 电流修正系数 R:-26 dBΩ

- 电感:1 nH

- 最大功率损耗:2.5 W

P622 有源0.1Ω高频电流表

P622 是带有集成前置放大器的0.1Ω探头,用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。 它的内阻非常小,因此测量误差比P603型电流表要小。测量时,把它接到电源引脚(Vdd/Vss)或信号引脚上。

- 频率范围:9 kHz-3 GHz;

- 耦合电容的容量:8 µF

- 电压传递系数:20dB

- 电流表

- 分流器:0.1Ω

- 1 dB 压缩点:120 dBµV

- IP3:134 dBµV

- 测量输出:50 Ω, SMB

- 噪声系数:3.7 dB

- 电流修正系数 R:0 dBΩ

- 电感:1 nH

- 电源电压:12Vdc

- 最大功率损耗:2.5 W

P603-1 1Ω高频电流表 SMA

P603-1探头属于1Ω探头用于直接测量集成电路引脚上的高频(RF)电流,主要用于接地引脚(Vss)和信号引脚的测量。1Ω 高频电流计拥有针脚触点,可以接触到并对集成电路的每个引脚进行测量。  

- 频率范围:0.2 kHz-3 GHz;

- 测量输出:50 Ω, SMB;

- 电压传递系数:-6dB

- 电流表分流器:1Ω

- 电流修正系数 R:-6 dBΩ

- 电感:1 nH

- 最大功率损耗:2.5 W  

P603 1Ω高频电流表

用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。测量时,把它接到电源引脚(Vdd/Vss)或信号引脚上。1Ω高频电流表拥有针脚触点,借此可以接触到并对单个的引脚并进行测量。

- 频率范围:9 kHz-3 GHz;

- 耦合电容的容量:8 µF

- 测量输出:50 Ω, SMB;

- 电压传递系数:-6dB

- 电流表分流器:1Ω

- 电流修正系数 R:-6 dBΩ

P623 有源1Ω高频电流表

P623 是带有集成前置放大器的1Ω探头,用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。测量时,把它接到电源引脚(Vdd/Vss)或信号引脚上。1Ω高频电流表拥有针脚触点,借此可以接触到并对单个的引脚并进行测量。

- 频率范围:9 kHz-3 GHz;

- 耦合电容的容量:8 µF

- 电压传递系数:20dB

- 电流表

- 分流器:1Ω

- 1 dB 压缩点:120 dBµV

- IP3:134 dBµV

- 测量输出:50 Ω, SMB

- 噪声系数:3.7 dB

- 电流修正系数 R:20 dBΩ

- 电感:1 nH

- 电源电压:12Vdc

- 最大功率损耗:2.5 W

P750 150Ω高频电压表

- 频率范围:150 kHz-3 GHz;

- 输入阻抗:150 Ω

- 测量输出:50 Ω, SMB;

- 电压传递系数:-15.2dB

- 最大直流输入电压:50V

- 最大射频输入电压:3.5V

辐射发射测量方法-磁场探头法

德国LANGER公司开发和生产的用于测量IC引脚的传导发射的磁场探头,符合IEC61967-6测试要求,磁场探头法是通过测试PCB板导线上的电流来评定集成电路的电磁发射。芯片引脚通过PCB板上的导线与电源或外围电路相连,因而它产生的射频电流可用一个靠近的磁场探头获取,由电磁感应定律,探头输出端的电压正比于导线上的射频电流。

• 测试示意图

3

• 测试连接图

4

• 探头技术参数

P1601 高频磁场探头

Probe 1601具有50欧姆输出,用于近场(H-场)测量IC产生的磁场;为了定位磁场电流在不同方向RF,磁场探测器是可以360°旋转。探头放置在IC上方3或10mm的高度。

探头通过频谱分析仪或接收机操作。

- 频率范围:0-1 GHz;

- 输出接口:N-型 (50 Ω)

- 磁场源大小:(40 x 22) mm

- 重量:760g

- 尺寸 (L x W x H):(180 x 96 x 96) mm

P1602 高频磁场探头

P1602型高频磁场探头用于测量从一个集成电路耦合出的磁场,其频率在3GHz 以内。这些磁场在探头内的导体上感应出电压,相连的频谱分析仪会测量这些电压。

具有50欧姆输出;为了定位磁场电流在不同方向RF,磁场探测器是可以360°旋转。探头放置在IC上方3或10mm的高度。

探头通过频谱分析仪或接收机操作。

- 频率范围:0-3 GHz;

- 输出接口:N-型 (50 Ω)

- 磁场源大小:(30 x 22) mm

- 重量:745g

- 尺寸 (L x W x H):(180 x 96 x 96) mm

P1702 高频电场探头

P1702型高频电场探头用于测量从一个集成电路发出的电场。这些电场会耦合到探头的电极上。由此产生的延迟电流会造成相连的频谱分析仪的输入端电压下降。相连的频谱分析仪会测量这些压降。

具有50欧姆输出,与一个测量电场的电极相连。探头放置在IC上方3或10mm的高度。

探头通过频谱分析仪或接收机操作。

- 频率范围:0-3 GHz;

- 输出接口:N-型 (50 Ω)

- 电场源大小:42 mm Ø

标签: 集成电路 EMC

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