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泰克电子最新光测试模块方便400Gbps系统测试

2018-03-21 09:32 来源:美通社 编辑:闵闵

Tektronix泰克电子日前发布针对其DSA8300取样示波器的两款新的测试模块。这两款产品号称具有业界最高的灵敏度和最低的噪声性能,方便400Gbps系统厂商提升产能和良率。泰克同时还发布了针对400G PAM4 TDECQ测试的4通道并行处理优化的软件包,方便提升制造产能。


泰克表示,光通信工业正在加速向400G和PAM4系统升级。然而在400G和PAM4时代,更低的信噪比,信号幅度以及10倍以上的测试量对测试工程师降低测试成本提出了严峻的挑战。泰克的基于DSA8300的取样示波器可以支持更低的测试成本,更高的测试带宽,测试灵敏度和更短的测试时间。


泰克新的80C20和80C21 测试模块针对56GBaud PAM4和NRZ应用,配合DSA8300取样示波器,只有9微瓦光噪声。两通道的80C21更可以让测试能力翻倍。这两款产品将从今年4月开始发售。


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